PL980近红外二区荧光测量系统是一款可进行纳米材料的荧光光谱分析研究和开发的一套光谱系统，该系统重现性好，测量速度快，具有良好的采集效率和可靠性,可广泛应用于通讯、化工生物医疗、材料分析等领域。

荧光光谱范围：1000-1700nm
高稳定性
高灵敏度，相对于传统90°荧光测量方式检测灵敏度提高100倍。