| 发布日期：2022-03-11 |
金纳米SERS芯片
**章背景介绍
SERS技术
表面增强拉曼技术(Surface Enhanced Raman Spectroscopy；SERS) 通过贵金属(金或银) 纳米结构的电磁场增强效应，将吸附于SERS基底上的目标分子的拉曼信号放大百万倍以上，从而实现多种物质痕量检测。其浓度检测范围一般为ppb~ppm级别。
目前SERS痕量检测技术已发展成为食品安全快速检测必备技术。同时SERS技术还广泛应用于环境检测， 公共安全， 生物医药及科研领域。
拉曼效应
拉曼效应指物质分子由于运动而吸收光能，随后通过再辐射向四周散射光能。拉曼散射中辐射光与入射光(吸收光)能量不同，其差值表达了物质分子的结构特征。拉曼效应存在于一切分子中，无论气体，液体或固体，其散射频率一般是分子内部振动或转动频率。类似于每个人都有不同于他人的指纹，每一种物质(分子)有自己的特征拉曼光谱，因之人们可以根据物质的拉曼谱图鉴定这一物质。目前全球范围内已收集了超过9000种物质的拉曼谱图。
SERS光谱VS拉曼光谱
物质的常规拉曼信号较弱，需要一定数量才能够被检测(至少肉眼可见)。而SERS技术能极大的放大物质分子的拉曼信号， 少数分子即可产生足够的信号，因此是一种痕量分析技术。
SERS基底
SERS技术的核心是SERS增强基底， 不同纳米结构的SERS基底增强目标分子拉曼信号的能力不同。通过调控基底的组成、形状、尺寸、间距和聚集方式等可以优化优化基底的SERS增强活性。
W SER-3芯片基底
均匀性优异：同一芯片不同区域点， 标准偏差(relative standard deviation； RSD)在10%以内
SERS活性高：芯片的增强能力(Enhanced Factor) EF> 10
保质期长：使用周期大于180d
可定制化：可依据顾客需求，设计产品的结构、表面状态及外观尺寸
芯片规格
25mm*75mm | 活性区域 | 5mm*5mm | |
活性材料 | Au | 重复使用 | 否 |
激发波长 | 633nm/785nm | 激光功率 | ≤500mW |
最小样品量 | 2uL | 保质期 | 180d |
包装：5片/盒
第二章SERS芯片使用流程及注意事项
SERS检测
检测包括：1)样品前处理，提取复杂介质中的目标物质，并尽可能排除干扰物质； 2) 将目标物质通过化学/物理吸附， 负载于SERS基底表面：3) 在微拉曼仪的激发光下， SERS基底将目标分子的拉曼信号放大， 回馈微拉曼仪， 并通过仪器自动识别，分辨目标分子。
标准检测流程
1.打开外包装，取出置于塑料盒中保护的芯片；
2.注意不让芯片活性区域接触任何物质表面，否则极有可能造成污染；
3.载入样品，可选择滴加、旋涂或浸泡；
4.待芯片晾干后，进行测试。
注意事项
1.接触芯片请配带手套；
2.保持周围环境干净；
3.切忌接触或刮擦活性区域；
4.高的空气湿度会加大表面污染的概率；
5.空气中不能有污染性气体；
6.芯片不可回收。
7.测试参数选择将影响测试结果。待测试参数(激光功率，积分时间，上样方式等)**化后，选择同样的测试参数，可获得可重复的结果。
加样方式
滴加：用移液枪在SERS活性区域滴加5uL左右(可自行设定) 样品溶液， 待溶剂挥发干后， 进行SERS光谱采集。可通过适当加热(<80℃) 加快挥发速度，提高芯片基底与待测物质结合效率。
蒸发：芯片也可通过吸附易挥发物质气体分子实现加样
浸泡：对于与芯片作用力较强的目标物质，可采取溶液浸泡的方式加样。将芯片浸没于待测分子溶液中， 吸附一段时间(>10min) 后取出， 用溶剂冲洗后晾干，随后进行检测。相对而言，通过浸泡方式加样，所获得的检测结果重现性较高。
参数选择
1.焦距：为确保激光焦平面在样品表面，可用X-Y-Z三维平台进行聚焦，或选取固定焦距配件进行聚焦。
2.功率：激光功率选取与激光斑点尺寸有关，原则上激光功率密度不高于1600W/cm²，相对于785nm激光，当激光点直径为150um时，可选择不超过400mW功率。若激光功率太高，易使目标分子发生碳化。
3.积分时间：提高积分可以提高样品信号，但同时也会增加基底背景及荧光背景。
4.积分次数：提高积分次数可增加信噪比，但也增加样品碳化几率。
储存
1.氮气气氛下保存(可放置大于180天)
2.室温储存，至于干燥环境中(保干器)；
3.有效期内使用， 否则其SERS活性会显著下降。
常见问题
1.SERS芯片适用哪种拉曼仪?
SERS基底材料为Au， 因此可选择激光波长为633nm及785nm的拉曼检测仪。
2.如何知道目标分子为拉曼活性的?
可事先通过查阅文献资料获得，或来电咨询本公司技术人员获取参考意见。
3.基底活性降低是什么原因?如何避免?
基底由于缓慢氧化会导致SERS活性持续降低， 通常可将芯片放入氮气气氛下储存，以减缓活性区域的氧化速度。但这种氧化不可避免，只能尽量减缓。因此建议尽早使用芯片，以获得更佳的使用效果。
4.芯片基底可以重复使用吗?
不可以。在检测过程中， 目标分子会与芯片基底发生强吸附以获得更好的SERS响应。测试结束后，若要将分子解吸附，需进行较为激烈的处理。通常这些处理均会对芯片原有结构造成不可预期的破坏， 因此不建议用户重复使用SERS芯片基底。
第三章结构参数及应用实例
1.SERS活性
A)增强因子(EF)
EF定义为相同数量物质分子的SERS信号与常规拉曼信号强度之比， 表示为：
其中I urf和Ib uk分别为表面和溶液相分子某个振动的积分强度， Nuri和Nb uk分别对应于同一入射光束下表面吸附的分子数和体相的分子数。经过计算， 天际创新SERS芯片对1mM吡啶分子的SERS增强为5×108。另一方面， 天际创新SERS芯片粒子间距~2nm， 理论计算也表明其SERS增强EF>108。
B) 检测限(Limit of Detection， LOD)
指由基质空白所产生的仪器背景信号的3倍值的相应量，或者以基质空白产生的背景信号平均值加上3倍的均数标准差。
2.均匀性
为了表征整个SERS基底的均一性， 对基底进行大区域的拉曼成像。成像范围为4.98*4.56mm，数据点共计25232=166*152，步长为30um。探针分子为浓度1uM的4，4-联吡啶，选择1291cm处拉曼峰的峰强度进行拉曼成像，成像的结果如下。其中， 黄色为SERS基底中间区域， 蓝色对应的是SERS基底的边缘区域， 黑色为SERS基底之外的空白的区域。从拉曼的成像结果可以看出， 合成的SERS基底较为均匀， RSD<10%。
从电镜结构可以看到，芯片基底表面大部分为3~6个纳米粒子的聚集体结构，在数十微米尺度的激光斑点下，其均匀性十分优异。
3.重现性
选取20片不同批次生产的SERS芯片， 在同一条件下进行测试。以其中任意一条光谱为标准，在微拉曼仪器上建立数据库。通过自动匹配来检验其余芯片测试结果，设置仪器自动匹配度为85%，其余结果显示完全符合，且信号强度波动在15%以内。
4.稳定性
选取同一批次芯片，每隔3天取1片进行相同条件下测试，记录信号随时间变化。
5.定量性
分别对同一物质不同浓度测试结果设置标准数据库，通过仪器自动识别匹配。
而不是某些自动的垃圾注册程序。 |
